简单的坏点校正记录

坏点校正记录"/>

简单的坏点校正记录

坏点的成因

1. Sensor 工艺缺陷：像素点在工艺上的缺陷，光电转换过程出错……
2. PD 点: 固定位置用于 PDAF
3. 其它原因引起：温度（曝晒，电流噪声增大等等），gain……

坏点校正的目的

• 坏点像素值与真实值差异大，后续模块无法去除
• 坏点回造成部分 pixel 闪烁

坏点校正的原理

坏点校正分为2个阶段：坏点检测和坏点校正。

坏点检测

1，简单的判断方法

分别计算当前点与同通道3x3区域范围内除本身之外的次大值以及次小值的差异，并将差异与阈值进行比较，两者均小于等于阈值时就判定为good pixel，否则为bad pixe。

2，稍微复杂的判断方法

将当前点周围3x3区域内除自身外的次大值（dmax）以及当前点周围3x3区域内除自身外的次小值（dmin）与周围3x3 区域平均值（avg）进行比较，得到good pixel的判断阈值（th），该判断阈值（th）与以下三个因素有关：

（1）dmax - avg：当前点周围3x3区域内除自身外的次大值与平均值的差异；
（2）dmin - avg：当前点周围3x3区域内除自身外的次小值与平均值的差异；
（3）det_th_ratio：用户设置的det_th_ratio值。

坏点修复

1，取0°，90°或者两个斜角的插值。

2，8临域的均值、中位数等。