硅片厚度测量"/>
硅片厚度测量
要求测量硅片的厚度
硅片厚度测量
由于硅片是不透明，且反光的物品，本次测试采用D40A36搭配双通道H4UC控制器，D40A36具有小光斑，分辨率和测量精度都更高，非常适合测量高精度，高分辨率且反光的物品。
（对射侧厚）
（对射侧厚）
蓝色曲线为上镜头高度数据曲线，红色曲线为下镜头高度数据曲线，通过上下镜头的高度数值，可以计算出厚度曲线。
（硅片的厚度数值）
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要求测量硅片的厚度
硅片厚度测量
由于硅片是不透明，且反光的物品，本次测试采用D40A36搭配双通道H4UC控制器，D40A36具有小光斑，分辨率和测量精度都更高，非常适合测量高精度，高分辨率且反光的物品。
（对射侧厚）
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蓝色曲线为上镜头高度数据曲线，红色曲线为下镜头高度数据曲线，通过上下镜头的高度数值，可以计算出厚度曲线。
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