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国产升级，高端打造丨优可测薄膜厚度测量仪新品上市
优可测隆重推出薄膜厚度测量仪AF-3000系列新品，助力国产制造和科研升级。
小优博士带大家来一睹新品风采！
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【测量原理】
不同波长的光波穿透被测膜层
上下表面反射光相互之间的相位差增强或减弱
通过解析干涉图形计算被测膜层厚度
【应用场景】
广泛应用在半导体、精密光学、液晶、新能源/光伏、医疗、刀具、制成薄膜、高分子材料等行业。例如ITO膜、钙钛矿 、量子点、SiO2、光刻胶等。
优可测AF-3000系列提供高精度、高速度、多场景、多层厚度测量方案。
四大亮点 远超传统膜厚仪
01
超高精度 分辨率1Å
采用独特的“分波段拟合算法”
偏差精准校正，实现超高分辨率
02
多层测量
最高可测10层
03
适用多场景
04
毫秒级别采样频率
比传统膜厚仪提升2-3倍
更合适在线使用
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